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经营范围
发明名称
Enhanced test circuit
摘要
申请公布号
EP0358371(B1)
申请公布日期
1998.03.11
申请号
EP19890308503
申请日期
1989.08.22
申请人
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
发明人
WHETSEL, LEE D., JR.
分类号
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G06F11/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
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