| 发明名称 |
METHOD AND EQUIPMENT FOR MEASURING FLATNESS OF THIN PLATE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1068620(A) |
申请公布日期 |
1998.03.10 |
| 申请号 |
JP19960226958 |
申请日期 |
1996.08.28 |
| 申请人 |
KOBE STEEL LTD |
发明人 |
IBATA HARUHIRO;SAWADA MAMORU |
| 分类号 |
G01B21/20;G01B21/30;(IPC1-7):G01B21/30 |
主分类号 |
G01B21/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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