SEMICONDUCTOR DEVICE CAPABLE OF TESTING ON DIE TERMINATION CIRCUIT USING A BOUNDARY SCAN CIRCUIT, TEST SYSTEM AND TEST METHOD HAVING THE SAME,申请号KR20050104827-传众专利搜索

发明名称	SEMICONDUCTOR DEVICE CAPABLE OF TESTING ON DIE TERMINATION CIRCUIT USING A BOUNDARY SCAN CIRCUIT, TEST SYSTEM AND TEST METHOD HAVING THE SAME
摘要
申请公布号	KR100801033(B1)	申请公布日期	2008.02.04
申请号	KR20050104827	申请日期	2005.11.03
申请人		发明人
分类号	G11C29/00;G11C7/10	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
主权项
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