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经营范围
发明名称
具有具降低之保形性的受应力之接触蚀刻停止层的场效电晶体
摘要
藉由形成高度非保形受应力覆盖层(overlayer),譬如接触蚀刻停止层,可明显地增加应力转移入场效电晶体之个别通道区域中之效率。例如,非保形PECVD技术可用来以非保形方式形成高度受应力之氮化矽,由此对于其他方面相同之应力状况达成较高电晶体效能。
申请公布号
TW200818339
申请公布日期
2008.04.16
申请号
TW096131774
申请日期
2007.08.28
申请人
高级微装置公司
发明人
弗贝葛 凯依;费思特 法兰克;薇妮尔 汤马士
分类号
H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01)
主分类号
H01L21/336(2006.01)
代理机构
代理人
洪武雄;陈昭诚
主权项
地址
美国
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