发明名称 半导体基片的制作方法
摘要 本发明是关于多孔硅腐蚀液,使用该腐蚀液的腐蚀方法以及使用该腐蚀液制作半导体基片的方法,其优点在于,提供不给半导体工艺带来不良影响、不腐蚀非多孔硅、并能高效率、均匀地对多孔硅进行化学腐蚀的腐蚀液,该腐蚀液可以是氢氟酸;制作半导体基片的制造方法包括如下工序:形成具有非多孔硅单晶层和多孔硅层的衬底,将有绝缘性材料表面的衬底接合在该单晶层的表面上,用浸入氢氟酸的方法腐蚀除去多孔硅层。
申请公布号 CN1175084A 申请公布日期 1998.03.04
申请号 CN97105478.9 申请日期 1992.02.15
申请人 佳能株式会社 发明人 坂口清文;米原隆夫;佐藤信彦
分类号 H01L21/20;H01L21/306 主分类号 H01L21/20
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 王以平
主权项 1.一种制备半导体基片的方法,包括下列步骤:提供一具有一多孔单晶硅层和一非多孔单晶硅层的第一衬底;将第一衬底粘结到一第二衬底上,其间夹有一绝缘层,粘结时把非多孔单晶硅层置于要制备的多层结构的内侧;以及用一腐蚀液腐蚀多孔单晶硅层,该腐蚀液由一包括氢氟酸以及醇和双氧水中的至少一种的溶液构成,或由一包括缓冲氢氟酸以及醇和双氧水中至少一种的溶液构成,以从所述多层结构上除去所述多孔单晶硅层。
地址 日本东京都