发明名称 | 半导体基片的制作方法 | ||
摘要 | 本发明是关于多孔硅腐蚀液,使用该腐蚀液的腐蚀方法以及使用该腐蚀液制作半导体基片的方法,其优点在于,提供不给半导体工艺带来不良影响、不腐蚀非多孔硅、并能高效率、均匀地对多孔硅进行化学腐蚀的腐蚀液,该腐蚀液可以是氢氟酸;制作半导体基片的制造方法包括如下工序:形成具有非多孔硅单晶层和多孔硅层的衬底,将有绝缘性材料表面的衬底接合在该单晶层的表面上,用浸入氢氟酸的方法腐蚀除去多孔硅层。 | ||
申请公布号 | CN1175084A | 申请公布日期 | 1998.03.04 |
申请号 | CN97105478.9 | 申请日期 | 1992.02.15 |
申请人 | 佳能株式会社 | 发明人 | 坂口清文;米原隆夫;佐藤信彦 |
分类号 | H01L21/20;H01L21/306 | 主分类号 | H01L21/20 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王以平 |
主权项 | 1.一种制备半导体基片的方法,包括下列步骤:提供一具有一多孔单晶硅层和一非多孔单晶硅层的第一衬底;将第一衬底粘结到一第二衬底上,其间夹有一绝缘层,粘结时把非多孔单晶硅层置于要制备的多层结构的内侧;以及用一腐蚀液腐蚀多孔单晶硅层,该腐蚀液由一包括氢氟酸以及醇和双氧水中的至少一种的溶液构成,或由一包括缓冲氢氟酸以及醇和双氧水中至少一种的溶液构成,以从所述多层结构上除去所述多孔单晶硅层。 | ||
地址 | 日本东京都 |