| 发明名称 |
METHOD OF MEASURING THERMAL RESIOSTANCE OF SEMICONDUCTOR DIODES WITH THEIR JUNCTION WITHIN BREAKDOWN RANGE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL173206(B1) |
申请公布日期 |
1998.02.27 |
| 申请号 |
PL19940302998 |
申请日期 |
1994.04.13 |
| 申请人 |
WYZSZA SZKOLA MORSKA |
发明人 |
ZAREBSKI JANUSZ;STEPOWICZ WITOLD J. |
| 分类号 |
G01K7/01;G01K17/00;G01K17/20;G01R31/26 |
主分类号 |
G01K7/01 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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