发明名称 Apparat für ellipsometrische Untersuchungen von Materialien
摘要
申请公布号 DE59209144(D1) 申请公布日期 1998.02.26
申请号 DE19925009144 申请日期 1992.04.03
申请人 HAHN-MEITNER-INSTITUT BERLIN GMBH, 14109 BERLIN, DE 发明人 CRAMER, LUDGER, DIPL.-PHYS., W-1000 BERLIN 28, DE;DUWE, HARTMUT, DIPL.-PHYS., W-1000 BERLIN 19, DE;LEWERENZ, HANS-JOACHIM, DR.RER.NAT., W-1000 BERLIN 39, DE
分类号 G01N21/21;(IPC1-7):G01N21/21 主分类号 G01N21/21
代理机构 代理人
主权项
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