发明名称 温度量测系统之阵列式组合结构
摘要 本创作系为一种温度量测系统之阵列式组合结构,其由绝缘底盒、培养皿、绝缘上盖、液态氮等能量放射源输入管(低温探针 cryoprobe)、高度与水平调整仪及诸多温度量测探针等构件组成;该具呈阵列式排列之温度量测构造,至少由三支位于不同径向位置之温度量测探针所组成,藉由各温度量测探针所得到的温度数据及其相关几何位置,可配合曲线吻合法(Method ofcurve-fitting)得到其径向之温度分布曲线,量测位于培养皿中各部位于相对时间之被量测物质的温度,以提供后续有关系统之温度变化追踪与比较之用,其可运用于生物医学和生物化学等领域者。
申请公布号 TW327455 申请公布日期 1998.02.21
申请号 TW085213683 申请日期 1996.09.03
申请人 张文颖 发明人 张文颖
分类号 G01K3/00 主分类号 G01K3/00
代理机构 代理人 颜福桢 台南县仁德乡太子路六七七号
主权项 1.一种温度量测系统之阵列式组合结构,其由绝缘底盒、培上皿、绝缘上盖、液态氮等能源输入管及诸多温度量测探针等构件组成;其特征在于:不采用同一径向之线形排列而以阵列式组合之温度量测探针,至少由三支组成,其可三点构成一平面之温度量测探针,系于绝缘密闭容室中量测温度,由温度量测探针可量得所对应之几何位置的温度数据,可配合数学软体(如曲线吻合法)求得温度分布图,并将之记录与储存,以便往后进行分析与比较之用,其可提供生物医学和生物化等领域之适当运用者。2.如申请专利范围第1项所述「温度量测系统之阵列式组合结构」,其绝缘底盒,具为隔热绝缘之承座体,其上方内部设有一承凹室可供培养皿之下段放置者;其绝缘上盖,系为隔热绝缘之罩盖体,其底面设有一凹部可供培养皿之上段插入,由绝缘底盒之承凹室与绝缘上盖之凹部对应罩合,可构成一密闭容室,另绝缘上盖之中心设有内部中空之绝缘螺杆,此绝缘螺杆之中心部份,可供内部设有穿杆插孔之金属轴下段由上而下插入,穿杆插孔可供液态氮等能源输入管之下端相连,并导引液态氮进入金属轴内部者;其温度量测探针,系以不同径向交错排列之阵列式组合,垂直布置于绝缘密闭容室中,且将绝缘上盖之横端面予以固定,各温度量测探针之另端可连结电脑介面,以利温度量测资料可与电脑连结者。3.如申请专利范围第1项所述「温度量测系统之阵列式组合结构」,其中,垂直贯穿绝缘上盖之温度量测探针,系以每环数支且分多环层阵列等差排列组成,其两两相近之温度量测探针排列呈适当角度、适当距离者。图示简单说明:第一图:本创作阵列式组合结构之剖视图第二图:本创作阵列式组合结构之A-A详图第三图:本创作阵列式组合结构设于光学显微镜中之实施例图
地址 桃园县大园乡埔心五十七号