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经营范围
发明名称
DEVICE, METHOD, AND PROBE FOR CONTINUITY INSPECTION
摘要
申请公布号
JPH1048281(A)
申请公布日期
1998.02.20
申请号
JP19960205932
申请日期
1996.08.05
申请人
OKANO HIGHTECH KK
发明人
YAMAOKA HIDEJI
分类号
G01R31/02;(IPC1-7):G01R31/02
主分类号
G01R31/02
代理机构
代理人
主权项
地址
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