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发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, MONITORING METHOD FOR STRESS TEST MONITOR FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND STRESS TEST FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1050098(A) 申请公布日期 1998.02.20
申请号 JP19960199060 申请日期 1996.07.29
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 OZAKI KOJI
分类号 G01R31/28;G01R31/30;G11C29/00;H01L21/66;H01L21/8247;H01L27/115;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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