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经营范围
发明名称
Integrierte Halbleiterschaltung und Testmethode dafür
摘要
申请公布号
DE69031551(T2)
申请公布日期
1998.02.19
申请号
DE19906031551T
申请日期
1990.07.10
申请人
FUJITSU LTD., KAWASAKI, KANAGAWA, JP
发明人
YAMAMURA, TAKESHI, ZAMA-SHI, KANAGAWA 228, JP
分类号
H01L21/66;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/3185;G06F11/27;(IPC1-7):G06F11/24;G06F11/26
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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