发明名称 半导体集成电路器件
摘要 本发明揭示一种半导体集成电路器件,包括形成多晶硅层(43)以便到达全部单元晶胞的电源/GND专用的有源区域(23)、(32),构成MOS电容。也就是说,借助于在取基板电位的扩散层上配置多晶硅层(43),得到去耦电容。因此,能抑制电源噪声。本发明提供了能具有不要特别的面积、仅在已有的区域吸收电源噪声的去耦电容的半导体集成电路器件。
申请公布号 CN1173740A 申请公布日期 1998.02.18
申请号 CN97113900.8 申请日期 1997.06.26
申请人 冲电气工业株式会社 发明人 益田裕久;田代雅久
分类号 H01L27/118 主分类号 H01L27/118
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 孙敬国
主权项 1.一种半导体集成电路器件,其特征在于,借助于在半定制LSI的单元晶胞中配置多晶硅层以便到达电源/GND专用的P+有源区域、得到去耦电容,能抑制电源噪声。
地址 日本东京