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发明名称
INTEGRATED CIRCUIT TESTING PROBE AND HEAD WITH IT
摘要
申请公布号
JPH1038925(A)
申请公布日期
1998.02.13
申请号
JP19960205484
申请日期
1996.07.17
申请人
NIPPON MAIKURONIKUSU:KK
发明人
SHO MASAHIKO
分类号
G01R1/073;H01L21/66;(IPC1-7):G01R1/073
主分类号
G01R1/073
代理机构
代理人
主权项
地址
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