| 发明名称 |
LEAK TEST METHOD FOR FILM TEST PIECE BY HELIUM DETECTOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1038746(A) |
申请公布日期 |
1998.02.13 |
| 申请号 |
JP19960189261 |
申请日期 |
1996.07.18 |
| 申请人 |
ULVAC JAPAN LTD |
发明人 |
OCHIAI EIJIRO;MAEDA AKIHIRO |
| 分类号 |
G01M3/20;B65B57/02;G01M3/32;(IPC1-7):G01M3/20 |
主分类号 |
G01M3/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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