| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR CHIP WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1040700(A) |
申请公布日期 |
1998.02.13 |
| 申请号 |
JP19970058851 |
申请日期 |
1997.03.13 |
| 申请人 |
INTERNATL BUSINESS MACH CORP <IBM> |
发明人 |
ROBERT D ADAMS;JOHN CONNER;GARRET S CAUCH;LUIGI TARNURO JR |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/413;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/12;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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