发明名称 |
PROCEDE ET DISPOSITIF INTERFEROMETRIQUE DE CARACTERISATION D'UN MILIEU |
摘要 |
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申请公布号 |
FR2742867(B1) |
申请公布日期 |
1998.02.06 |
申请号 |
FR19950015393 |
申请日期 |
1995.12.22 |
申请人 |
COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE |
发明人 |
ELOY JEAN FRANCOIS |
分类号 |
H05G2/00;H05H1/00;(IPC1-7):G01N33/00;G01D5/62;G01N21/45;G01N23/20 |
主分类号 |
H05G2/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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