发明名称 Doped silicon substrate
摘要 Es wird vorgeschlagen, die als Diffusionsbarriere für Dotierstoffe dienende Siliziumoxidschicht 3 zwischen Siliziumsubstrat 1 und Polysiliziumschicht 4 anzuordnen. Dadurch sind keine Zusatzmaßnahmen zur Vermeidung des Autodopingeffekts erforderlich und die getternde Wirkung der Polysiliziumschicht 4 auf der Siliziumsubstratrückseite 2 bleibt erhalten. <IMAGE>
申请公布号 EP0822588(A2) 申请公布日期 1998.02.04
申请号 EP19970113232 申请日期 1997.07.31
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BEHNKE, GUDRUN, DR.;WECKER, DORIT, DR.;MAYER, KARL
分类号 H01L21/22;H01L21/322;(IPC1-7):H01L21/322 主分类号 H01L21/22
代理机构 代理人
主权项
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