Werkwijze voor het testen van een drager met meerdere digitaal-werkende geïntegreerde schakelingen, geïntegreerde schakeling geschikt voor het aanbrengen op een aldus te testen drager, en drager voorzien van meerdere van zulke geïntegreerde schakelingen.

摘要

A method for testing integrated circuits provided on a carrier. The circuits include a series input (22) and a series output (24) for test and result patterns. A mode control register (30) receives a mode control signal train via the serial input. Under the control of said mode control signal train the serial input and output can be shortcircuited to each other, or further registers (32, 34, 36) can be selectively filled and emptied. In this manner, both the interior of the integrated circuit and respective interconnection functions can easily be tested by a universal protocol. Integrated circuits and the carrier only require minor extension/adaptations.