发明名称 |
TEST PIECE ANALYZER AND ANALYZING METHOD USING TEST PIECE |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH1031011(A) |
申请公布日期 |
1998.02.03 |
申请号 |
JP19960205278 |
申请日期 |
1996.07.15 |
申请人 |
EIKEN CHEM CO LTD;TERAMETSUKUSU KK |
发明人 |
WADA HIROSHI;HIRAI TOSHIYUKI;FURUYA YOSHIKAZU;SAITO KAZUYOSHI |
分类号 |
G01N31/22;G01N21/77;(IPC1-7):G01N31/22 |
主分类号 |
G01N31/22 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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