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发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS INSPECTION METHOD
摘要
申请公布号 JPH1019981(A) 申请公布日期 1998.01.23
申请号 JP19960167678 申请日期 1996.06.27
申请人 NEC CORP 发明人 HIDAKA ITSUO
分类号 G01R31/28;H03B5/36;H03K3/02;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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