发明名称 光纤感测系统
摘要 本发明揭示一种光纤感测系统,包含一耦合器,两个光侦测器,一感测头,一类比至数位转换器及一可适性杂讯消除器。该耦合器将从一光源接收的一光束分开并分别传送至该感测头及一参考光侦测器;该感测头将其所接收的光束传送至一感测光侦测器,该感测头可感测一外界讯号,于是当该感测头感侧到该外界讯号时,其传送至该感测光侦测器的光束的性质会产生变化。该感测光侦测器及该参考光侦测器分别将其等所接收的光束转换成电讯号,并将该等电讯号传送到该类比至数位转换器ADC的不同输入频道,而获得一数位化后的感测讯号Vs及一数位化后的参考讯号VR。该可适性杂讯消除器处理该讯号VR而获得一振幅响应趋近于该讯号Vs的输出,并且将此输出与该讯号Vs相减而得到此光纤感测系统的输出。
申请公布号 TW325525 申请公布日期 1998.01.21
申请号 TW086108276 申请日期 1997.06.14
申请人 吴建平 发明人 曾建诚
分类号 G02B6/10 主分类号 G02B6/10
代理机构 代理人 林圣富 台北巿和平东路二段二○三号四楼
主权项 1.一种光纤感测系统,包含一耦合器,两个光侦测器,一类比至数位转换器及一可适性杂讯消除器;其中该耦合器C的一输入端适于藉由一光纤而自一光源S接收一光束,该耦合器将该光束分开并分别经由一感测光纤Fs及一参考光纤FR传送至一感测头SH及一参考光侦测器DR;该感测头SH将其所接收的光束传送至一感测光侦测器Ds,该感测SH可感测一外界讯号,于是当该感测头SH感测到该外界讯号时,其传送至该感测光侦测器Ds的光束的性质会产生变化;该感测光侦测器Ds及该参考光侦测器DR分别将其等所接收的光束转换成电讯号,并将该等电讯号传送到一类比至数位转换器ADC的不同输入频道,而获得一数位化后的感测讯号Vs及一数位化后的参考讯号VR;及该可适性杂讯消除器ANC包含一数位滤波器DF及一系数调节器AA,该数位化后的参考讯号VR同时被送至该数位滤波器DF及该系数调节器AA作为该数位滤波器DF的一输入讯号及该系数调节器AA的一第一输入讯号,该可适性杂讯消除器ANC的一输出讯号E系由该数位化后的感测讯号Vs减去该数位滤波器DF的一输出讯号Y而获得,该可适性杂讯消除器ANC的输出讯号E同时被送至该系数调节器AA作为该系数调节器AA的一第二输入讯号,其中该系数调节器AA送出一讯号至该数位滤波器DF来调节该数位滤波器DF的系数,而使得该数位滤波器DF的输出讯号Y的振幅响应趋近于该数位化后的感测讯号Vs。2.如申请专利范围第1项的光纤感测系统,其中该耦合器C适于接收一雷射光束。3.如申请专利范围第1项的光纤感测系统,其中该感测头SH可感测一外界压力或声波讯号,于是当该感测头SH感测到该外界压力或声波讯号时,其传送至该感测光侦测器Ds的光束的性质会产生变化。4.如申请专利范围第1项的光纤感测系统,其中该感测光侦测器Ds及该参考光侦测器DR分别将其等所接收的光束的强度(intensity)转换成电讯号。5.一种光纤感测系统,包含一耦合器,两个光侦测器,一类比至数位转换器及一可适性杂讯消除器;其中该耦合器C的一输入端适于藉由一光纤而自一光源S接收一光束,该耦合器将该光束分开并分别经由一感测光纤Fs及一参考光纤FR传送至一感测头SH及一参考光侦测器DR;该感测头SH将其所接收的光束传送至一感测光侦测器Ds,该感测头SH可感测一外界讯号,于是当该感测头SH感测到该外界讯号时,其传送至该感测光侦测器Ds的光束的性质会产生变化;该感测光侦测器Ds及该参考光侦测器DR分别将其等所接收的光束转换成电讯号,并将该等电讯号传送到一类比至数位转换器ADC的不同输入频道,而获得一数位化后的感测讯号Vs及一数位化后的参考讯号VR;及该可适性杂讯消除器ANC包含一数位滤波器DF及一系数调节器AA,该数位化后的感测讯号Vs同时被送至该数位滤波器DF及该系数调节器AA作为该数位滤波器DF的一输入讯号及该系数调节器AA的一第一输入讯号,该可适性杂讯消除器ANC的一输出讯号E系由该数位化后的参考讯号VR减去该数位滤波器DF的一输出讯号Y而获得,该可适性杂讯消除器ANC的输出讯号E同时被送至该系数调节器AA作为该系数调节器AA的一第二输入讯号,其中该系数调节器AA送出一讯号至该数位滤波器DF来调节该数位滤波器DF的系数,而使得该数位滤波器DF的输出讯号Y的振幅响应趋近于该数位化后的参考讯号VR。图示简单说明:第一图系本发明光纤感测系统之架构方块图。第二图系一适用于本发明感测系统之可适性杂讯消除器ANC之架构方块图。第三图显示在无感测输入讯号的情况下,运用本发明光纤感测系统所获得的数位化后感测讯号Vs及参考讯号VR的经时变化,其中横座标轴是取样点数,纵座标轴是标准化后的振幅强度。第四图显示第三图的感测讯号Vs减去参考讯号VR之差値及本发明光纤感测系统的输出讯号E的经时变化,其中横座标轴是取样点数,纵座标轴是标准化后的振幅强度。
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