发明名称 | X、γ辐射成象正比计数器阵列探测装置 | ||
摘要 | 一种X、γ辐射成象正比计数器阵列探测装置,属放射源辐射的应用领域。本探测装置由多个探测单元组合而成,探测单元以多种排列形式(平行、扇形)构成探测装置。探测单元由一薄壁金属管和一细金属丝组成,金属丝用绝缘材料固定在金属管的二端,然后密封金属管内充有工作气体,本探测装置大大减少了现有探测装置的死区,并减少了现有探测装置中探测单元各象素探测效率的差异。 | ||
申请公布号 | CN2273016Y | 申请公布日期 | 1998.01.21 |
申请号 | CN95221960.3 | 申请日期 | 1995.09.22 |
申请人 | 清华大学 | 发明人 | 邬海峰;安继刚;卿上玉;王立强;刘以思;高宝增 |
分类号 | G01T1/18;G01T1/185 | 主分类号 | G01T1/18 |
代理机构 | 清华大学专利事务所 | 代理人 | 章瑞溥 |
主权项 | 1、一种χ、γ辐射成象正比计数器阵列探测装置,其特征是该探测装置由多个探测单元组合而成,探测单元以多种排列形式构成探测装置。 | ||
地址 | 100084北京市海淀区清华园 |