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发明名称
TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR IC
摘要
申请公布号
JPH1012343(A)
申请公布日期
1998.01.16
申请号
JP19960162725
申请日期
1996.06.24
申请人
HITACHI LTD
发明人
KAKIYA KEIZO
分类号
G01R31/26;H01R33/76;(IPC1-7):H01R33/76
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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