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发明名称
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
摘要
申请公布号
JPH1010206(A)
申请公布日期
1998.01.16
申请号
JP19960182756
申请日期
1996.06.24
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
NEGISHI TOSHIYUKI
分类号
G01R35/00;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R35/00
代理机构
代理人
主权项
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