| 发明名称 |
Ic fault location tracing apparatus and method |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
SG45406(A1) |
申请公布日期 |
1998.01.16 |
| 申请号 |
SG19960006356 |
申请日期 |
1996.03.15 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORPORATION |
发明人 |
KOBAYASHI HIROAKI;NIIJIMA HIRONOBU;SHIDA SOICHI |
| 分类号 |
G01R31/302;G01R31/307;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/307 |
主分类号 |
G01R31/302 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
