发明名称 | 清洗多层牺牲腐蚀的硅衬底的方法 | ||
摘要 | 通过各种腐蚀和键合方法,在硅衬底中形成检测体和至少一个相关的铰接部分,制造加速度计。该法必须在检测体下离子注入和形成氧化物支撑层,把两个互补的检测体和衬底结构整体地键合在一起,然后去掉氧化物支撑层,在硅材料体内只留下由铰接部分支撑的检测体。在键合和深腐蚀方法中,处理晶片,并将晶片锯切成两半,然后将互补的两半接合键合在一起,获得完成的加速度计。在制造复合晶片期间,将晶片安装在离心机中,旋转去除腐蚀剂。 | ||
申请公布号 | CN1169796A | 申请公布日期 | 1998.01.07 |
申请号 | CN96191635.4 | 申请日期 | 1996.11.18 |
申请人 | 利顿系统公司 | 发明人 | 基恩O·沃伦 |
分类号 | H01L21/00;B44C1/22 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 袁炳泽 |
主权项 | 1.一种形成多层牺牲腐蚀硅衬底的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:提供具有多层隐埋氧化层的硅衬底;腐蚀掉隐埋氧化层;把所述硅衬底悬于旋转夹具上,且距旋转夹具的中心一定距离;使夹具绕所述中心以一旋转速度旋转,以获得预定离心力。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州91367-6698 |