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发明名称 MANUFACTURING DEFECT ANALYZER WITH IMPROVED FAULT COVERAGE
摘要
申请公布号 EP0815460(A2) 申请公布日期 1998.01.07
申请号 EP19960905308 申请日期 1996.02.02
申请人 TERADYNE, INC. 发明人 SHEEN, TIMOTHY, W.
分类号 G01R31/02;G01R31/04;G01R31/28;G01R31/312;G01R31/315;(IPC1-7):G01R31/302 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
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