发明名称 |
METHOD AND ARRANGEMENT FOR PATTERN RECOGNITION ON THE BASIS OF STATISTICS |
摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Mustererkennung auf statistischer Basis, bei dem für ein zu erkennendes Objekt auf Basis eines vollständigen Ensembles von Zwei- oder Mehrklassenklassifikatoren die Zugehörigkeit zu jeder Zielklasse des Klassensatzes mit einem numerischen Wert geschätzt wird, der sich durch kaskadierte Anwendung von Polynomklassifikatoren ergibt. Erfindungsgemäss erfolgt aus allen Zwei- oder Mehrklassenklassifikatoren über deren Schätzvektorspektrum auf einer Lernstichprobe, in der alle zu erkennenden Klassenmuster genügend stark vertreten sind, eine Auswahl von denjenigen Zwei- oder Mehrklassenklassifikatoren, deren Schätzungen am stärksten zur Minimierung eines über das Schätzvektorspektrum errechneten skalaren Masses mit hoher Trennrelevanz beitragen. Mittels der ausgewählten Zwei- oder Mehrklassenklassifikatoren werden anschliessend über eine erweiterte Lernstichprobe Schätzvektoren gebildet, aus denen durch polynomiale Verknüpfung expandierte Merkmalsvektoren erzeugt werden, auf deren Basis ein Bewertungsklassifikator zur Schätzung auf alle Zielklassen gebildet wird.
|
申请公布号 |
WO9748069(A1) |
申请公布日期 |
1997.12.18 |
申请号 |
WO1997EP02649 |
申请日期 |
1997.05.23 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;BREUER, THOMAS;HANISCH, WILFRIED;FRANKE, JUERGEN |
发明人 |
BREUER, THOMAS;HANISCH, WILFRIED;FRANKE, JUERGEN |
分类号 |
G06K9/68;G06K9/62;G06K9/66;G06T7/00;(IPC1-7):G06K9/62 |
主分类号 |
G06K9/68 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|