Phasenplattenentwurf für das Abgleichen durch Referenzmusterabtastung von Mehrfach-Farbstrahlkassetten,申请号DE19946005039T-传众专利搜索

发明名称	Phasenplattenentwurf für das Abgleichen durch Referenzmusterabtastung von Mehrfach-Farbstrahlkassetten
摘要
申请公布号	DE69405039(T2)	申请公布日期	1997.12.11
申请号	DE19946005039T	申请日期	1994.04.21
申请人	HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US	发明人	COBBS, KEITH E., SAN DIEGO, CALIFORNIA 92116, US
分类号	B41J2/01;B41J2/125;B41J2/21;B41J11/00;B41J11/46;B41J21/16;B41J25/34;(IPC1-7):B41J25/34	主分类号	B41J2/01
代理机构		代理人
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