| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS PERFORMING TEST METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR0121465(B1) |
申请公布日期 |
1997.12.05 |
| 申请号 |
KR19940005307 |
申请日期 |
1994.03.17 |
| 申请人 |
FUJITSU KK.;FIJITSU VLSI KK. |
发明人 |
KATO, YOSHIHARU |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C29/12;G11C29/34;G11C29/40;G11C29/50;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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