发明名称 INSPECTION APPARATUS FOR PROTRUDING PART OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号 JPH09311014(A) 申请公布日期 1997.12.02
申请号 JP19960126861 申请日期 1996.05.22
申请人 NEC CORP 发明人 NAGAO MASAHIKO
分类号 G01B11/00;G01B11/24;G01N21/88;G01N21/956;H01L21/321;H01L21/60;H01L21/66;(IPC1-7):G01B11/00 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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