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发明名称 IC TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 JPH09311158(A) 申请公布日期 1997.12.02
申请号 JP19960127435 申请日期 1996.05.22
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 IBANE TORU
分类号 G01R29/02;G01R31/28;G01R31/319;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R29/02
代理机构 代理人
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