| 发明名称 |
RELAY-TESTING CIRCUIT, AND RELAY-TESTING APPARATUS USING THE SAME |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH09304462(A) |
申请公布日期 |
1997.11.28 |
| 申请号 |
JP19960121580 |
申请日期 |
1996.05.16 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP |
发明人 |
ABE KUNIO;HORIUCHI MINORU |
| 分类号 |
G01R31/00;H01H49/00;(IPC1-7):G01R31/00 |
主分类号 |
G01R31/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
