发明名称 |
绝对位置测定系统 |
摘要 |
一种光学和容性结合的绝对位置编码系统,采用了多个淀积到玻璃度盘基片上的金属化条纹。度盘附近配置有一个可移动的收发机。收发机产生与度盘相互作用的询问信号和光信号。可移动的收发机还装有接收机构供接收与度盘相互作用之后的信号。配备有信号处理电子装置,供比较所发射的询问信号与所收到的信号从而确定度盘与收发机的相对位置。即使系统的电源中断或度盘与收发机的相对运动非常之快,系统也能测出度盘与收发机的相对位置。 |
申请公布号 |
CN1036545C |
申请公布日期 |
1997.11.26 |
申请号 |
CN92101246.2 |
申请日期 |
1992.02.25 |
申请人 |
株式会社三丰 |
发明人 |
N·I·安德莫;T·E·汉利;P·S·莱恩 |
分类号 |
G01B11/02;G01R27/26;G01D5/24 |
主分类号 |
G01B11/02 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
叶恺东;张志醒 |
主权项 |
1.一种绝对位置测定系统(20),它包括:一个度盘部分(22),具有第一和第二规则图形,其中该第一和第二图形(70,130)由能与质完全不同类型的第一和第二性询问信号相互作用的材料制成;一个收发机部分(34),具有用以将第一和第二询问信号传送到度盘上的第一和第二发射装置(46,48),还具有用以接收与度盘相互作用之后的询问信号的第一和第二接收装置(70,100,130);支撑装置(24,26,28,33),用以活动地将度盘部分和收发机部分彼此支撑起来;信号发生装置(150),与收发机部分相连接,用以产生第一和第二询问信号;和信号处理装置(61,142),用电子学的方法耦合到第一和第二接收装置上,用以处理与度盘相互作用之后的询问信号,从而确定度盘部分与收发机部分在预定误差范围内的相对位置,其特征在于:所述第一和第二规则图形结合成单个的综合图形,其中所述第二图形(70)基本上跨越,基本上包括及部分地组成所述第一图形(130)。 |
地址 |
日本东京 |