发明名称 X-RAY FLUORESCENCE METHOD FOR DETERMINING THE COMPOSITION OF A MATERIAL AS WELL AS DEVICE FOR IMPLEMENTING SUCH A METHOD
摘要 <p>Um bei Proben (48), die mit einer Beschichtung (56) versehen sind, auch die Konzentration von Fremdatomen feststellen zu können, deren Röntgenfluoreszenzspektrum demjenigen eines Proben-Grundmaterials (54) nahekommt oder mit diesem zusammenfällt, wird vorgeschlagen, bei der Bestimmung der Konzentration der Fremdatome streifend von der Oberfläche der Probe ausgehende Fluoreszenzstrahlung (58) zu analysieren.</p>
申请公布号 WO1997043626(A1) 申请公布日期 1997.11.20
申请号 EP1997002180 申请日期 1997.04.27
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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