发明名称 | 高密度存储器结构 | ||
摘要 | 一动态随机存取存储器(DRAM)集成电路,包含一确定在一半导体基板内的凹陷区域。此凹陷区域具有自一底面延伸的基本上垂直的边侧。一场效三极管经确定以邻接于该凹陷区域。一包含有下电容器板、电容介电体及上电容器板的电容器结构,确定在该凹陷区域中、该场效三极管上方,借此提供较大的电容器表面。 | ||
申请公布号 | CN1165381A | 申请公布日期 | 1997.11.19 |
申请号 | CN96105125.6 | 申请日期 | 1996.05.10 |
申请人 | 台湾茂矽电子股份有限公司 | 发明人 | 蔡南雄;陈民良 |
分类号 | G11C11/34 | 主分类号 | G11C11/34 |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 余朦 |
主权项 | 1.一种存储器装置,该装置包括:一半导体基板,包含一凹陷区域,该凸陷区域具有由一底面延伸的侧边;一场效三极管,该场效三极管包括一邻接于该凹陷区域的源/汲极区域;一绝缘层,覆盖在该凹陷区域上;一下电容器板,覆盖在该绝缘层上,并位于一部分该场效三极管上方,该下电容器板连接至该源/汲源区域;一电容器介电体,覆介该下电容器板上;及一上电容器板,覆盖在该介电层上。 | ||
地址 | 中国台湾 |