| 发明名称 |
IC TEST DEVICE AND PROBE CARD USED THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09298223(A) |
申请公布日期 |
1997.11.18 |
| 申请号 |
JP19960112552 |
申请日期 |
1996.05.07 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP |
发明人 |
SAKATA HIROSHI;NAMIKI KATSUHIKO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R1/073;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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