发明名称 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON BELICHTUNGSZEITEN IN OPTISCHEN GERÄTEN MIT MIKROSKOPISCHEM ABBILDUNGSSTRAHLENGANG
摘要
申请公布号 AT159823(T) 申请公布日期 1997.11.15
申请号 AT19930918999T 申请日期 1993.09.15
申请人 LEICA MIKROSKOPIE UND SYSTEME GMBH 发明人 REMER, LUCIUS;GILBERT, MANFRED;HERMANN, FRANK
分类号 G02B21/36;G02B21/00;(IPC1-7):G02B21/00 主分类号 G02B21/36
代理机构 代理人
主权项
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