发明名称 PROCEDE DE FORMATION D'INTERCONNEXIONS DANS UN CIRCUIT INTEGRE
摘要 L'invention concerne un procédé de formation de connexions (67, 70, 75) et de vias (60) dans un circuit intégré comprenant les étapes suivantes: former des composants à grille isolée dans un substrat semi-conducteur (10); recouvrir le substrat d'une couche diélectrique (80) en un matériau photoréductible; graver des trous (45, 50, 55) et former des vias (60); photoréduire le diélectrique pour augmenter sa conductivité; recouvrir la structure résultante d'une couche d'interconnexion (64); graver la couche d'interconnexion pour définir des connexions en contact avec les vias; et oxyder le diélectrique pour réduire sa conductivité.
申请公布号 FR2748601(A1) 申请公布日期 1997.11.14
申请号 FR19960006018 申请日期 1996.05.07
申请人 SGS THOMSON MICROELECTRONICS SA 发明人 PAPADAS CONSTANTIN
分类号 H01L21/3213;H01L21/768;H01L23/532;(IPC1-7):H01L21/321;H01L23/528 主分类号 H01L21/3213
代理机构 代理人
主权项
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