发明名称 | 驱动器集成电路的输出电阻测试仪及其测试方法 | ||
摘要 | 提供了可高精度地、以较高速度、较便宜地构成测成具有多数个管腿的驱动器IC的输出阻抗的输出阻抗测试仪及其测试方法。用高速扫描器接受来自DUT的多个输出管腿的输出电压并用电压测试仪顺次测试电压来求输出阻抗,把设置于输出管腿与输入端子之间的可编程负载PL构成为对比输出电压高一个恒定电压和低一个恒定电压的门限电压源VT1群和VT2群这2系统的电压进行设定。可编程负载PL群在VT1群中吐出、在VT2群中吸入恒定负载电流。 | ||
申请公布号 | CN1164649A | 申请公布日期 | 1997.11.12 |
申请号 | CN97102239.9 | 申请日期 | 1997.01.15 |
申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 长岛真人;长门喜雄;小野宗范 |
分类号 | G01R27/08 | 主分类号 | G01R27/08 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王以平 |
主权项 | 1.一种驱动器IC的输出电阻测试仪,在测试本身是具有多数个输出管腿的驱动器IC的DUT(10)的直流特性的输出电阻测试仪中,其特征是:有分别连接到DUT(10)的各输出管腿OUTi上去的输入端子的高速扫描器(16);顺次测试上述高速扫描器(16)的各输入端子的电压的电压测试仪(17);可对分别设置于上述DUT(10)的各输出管腿OUTi与上述高速扫描器(16)的各输入端子之间,且可以把门限电压设定得比DUT(10)的输出电压高一个恒定电压的门限电压VT1群与可设定得低一个恒定电压的门限电压源VT2群这两个系统的电压进行设定的可编程负载PL(20i)群。 | ||
地址 | 日本崎玉县 |