发明名称 MANUFACTURE AND INSPECTION OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE
摘要
申请公布号 JPH09283529(A) 申请公布日期 1997.10.31
申请号 JP19970032111 申请日期 1997.02.17
申请人 TOSHIBA MICROELECTRON CORP;TOSHIBA CORP 发明人 MIYASHITA MORIYA;OGINO MASANOBU;HOSHI TADAHIDE;NUMANO MASAKUNI;SAMATA SHUICHI;SEKIHARA AKIKO;AKITA KEIKO
分类号 H01L21/66;H01L21/322;(IPC1-7):H01L21/322 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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