发明名称 |
TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR IC |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH09281190(A) |
申请公布日期 |
1997.10.31 |
申请号 |
JP19960094476 |
申请日期 |
1996.04.16 |
申请人 |
TOSHIBA MEDICAL ENG CO LTD;TOSHIBA CORP |
发明人 |
SUGITA HIRONORI |
分类号 |
G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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