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发明名称 TEST SOCKET FOR SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 JPH09281183(A) 申请公布日期 1997.10.31
申请号 JP19960091007 申请日期 1996.04.12
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 YOSHINAGA MOTOAKI
分类号 G01R31/26;H01L23/32;H01R33/76;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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