| 摘要 |
<p>Die Vorrichtung zum Einführen mindestens eines Halbleiter-Bauelements in eine Aufnahme, insbesondere in einen Testsockel zum Testen der elektrischen Funktion des Halbleiter-Bauelements, ist mit mindestens einem Aufnahmeraum (46) für das Halbleiter-Bauelement (12) versehen, wobei der Aufnahmeraum (46) eine Aufnahmeöffnung (56) aufweist. Ferner weist die Vorrichtung mindestens ein Bewegungselement (34) zum Bewegen des Halbleiter-Bauelements (12) in einer Bewegungsrichtung (58) durch die Aufnahmeöffnung (56) hindurch in den Aufnahmeraum (46) auf. Das Bewegungselement (34) weist eine Gaskissen-Erzeugungsvorrichtung (62) auf, die ein das Halbleiter-Bauelement (12) bis zumindest in die Aufnahmeöffnung (56) hineinbewegendes Gaskissen (60) erzeugt.</p> |
