| 发明名称 |
CIRCUIT AND METHOD FOR MEMORY TEST |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09274592(A) |
申请公布日期 |
1997.10.21 |
| 申请号 |
JP19960085005 |
申请日期 |
1996.04.08 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
KISHI TETSUJI;KAMATA TAKEHIRO;MIZUNO HIROSHI |
| 分类号 |
G06F12/16;G11C29/02;G11C29/12;(IPC1-7):G06F12/16 |
主分类号 |
G06F12/16 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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