| 发明名称 |
CIRCUITO DI PROVA DI BIT MULTIPLI DI DISPOSITIVI DI MEMORIA A SEMICONDUTTORE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IT1275666(B1) |
申请公布日期 |
1997.10.17 |
| 申请号 |
IT1994MI02324 |
申请日期 |
1994.11.16 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
SHIN CHOONG-SUN |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/401;G11C29/00;G11C29/34;G11C29/38;H01L27/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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