发明名称 Method and apparatus for evaluating the thickness of thin films
摘要
申请公布号 EP0549166(B1) 申请公布日期 1997.10.15
申请号 EP19920311080 申请日期 1992.12.04
申请人 THERMA-WAVE INC. 发明人 FANTON, JEFFREY T.;ROSENCWAIG, ALLAN;OPSAL, JON
分类号 G01B11/06;(IPC1-7):G01B11/06;G01N21/21 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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