发明名称 METHOD FOR MEASUREMENT OF THICKNESS OF REFRACTORY AND APPARATUS THEREFOR
摘要
申请公布号 JPH09264735(A) 申请公布日期 1997.10.07
申请号 JP19960075670 申请日期 1996.03.29
申请人 SUMITOMO METAL IND LTD 发明人 YAMANO MASAKI
分类号 G01B17/02;(IPC1-7):G01B17/02 主分类号 G01B17/02
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利