发明名称 Halbleiterbauelement-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19680786(T1) 申请公布日期 1997.10.02
申请号 DE19961080786T 申请日期 1996.07.24
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 KOBAYASHI, YOSHIHITO, SAITAMA, JP;YAMASHITA, TSUYOSHI, GUNMA, JP;NAKAMURA, HIROTO, SAITAMA, JP;NEMOTO, SHIN, YONO, SAITAMA, JP;MASUO, YOSHIYUKI, GYODA, SAITAMA, JP;ITO, AKIHIKO, HANYU, SAITAMA, JP
分类号 G01R31/26;G01R31/28;H01L21/677;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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