发明名称 单晶生长方法
摘要 采用CZ生长工艺的半导体单晶生长方法,具有一个阶段(0<t<t1),其中,在半导体单晶被拉制的同时,源材料连续地加入以使半导体熔化物量保持恒定,还有另一个阶段(t2<t<t3),其中源材料停止加入,而用第一阶段的剩余熔化物拉制半导体单晶。
申请公布号 CN1160778A 申请公布日期 1997.10.01
申请号 CN97101019.6 申请日期 1997.01.10
申请人 三菱麻铁里亚尔硅材料株式会社;三菱麻铁里亚尔株式会社 发明人 田口裕章;热海贵;降屋久;喜田道夫
分类号 C30B15/00 主分类号 C30B15/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 马铁良;萧掬昌
主权项 1.一种采用CZ生长工艺的半导体单晶生长方法,其特征在于:具有第一阶段,其中,在半导体单晶被拉制的同时,源材料连续地加入以使半导体熔化物量保持恒定,以及具有第二阶段,其中,源材料停止加入,用第一阶段的剩余熔化物拉制半导体单晶。
地址 日本东京都